logo
  • Home
  • Uchádzači o štúdium
    • Prečo študovať elektroniku a fotoniku na ÚEF FEI STU
    • Naše laboratóriá (výber :-)
    • Prihláška na štúdium na STU
  • Štúdium
    • Bakalárske štúdium
    • Inžinierske štúdium
    • Doktorandské štúdium
      • Legislatíva
      • PhD skúška v cudzom jazyku
    • Štátne záverečné skúšky
    • Vedecká konferencia ŠVOČ
      • ŠVOČ 2021
      • ŠVOČ 2020
      • ŠVOČ 2016
      • SVOČ 2014
    • Moodle E-Learn central
    • Harmonogram akademického roka
    • Legislatíva
  • Výskum
    • Zamerania výskumu
    • Spolupráca s praxou
    • Výskumné projekty (výber)
      • Intelligent Reliability 4.0 (iRel4.0)
    • Publikačná činnosť
    • Konferencie
    • Výročné správy
    • Laboratóriá
    • Naše laboratóriá (výber)
  • O nás
    • Organizačná štruktúra ÚEF
      • Mapa organizačnej štruktúry ÚEF (neškálovateľná)
    • OOLE – Oddelenie organickej a lekárskej elektroniky
      • Laboratórium organickej elektroniky
    • ONTIO – Oddelenie návrhu a testovania integrovaných obvodov
    • OEP – Oddelenie elektronických prvkov
      • BatteryLab @ OEP
    • OOLT – Oddelenie optoelektroniky a laserovej techniky
      • Pedagogika @ OOLT
      • Výskum @ OOLT
    • OSNT – Oddelenie senzorov a nanotechnológií
      • Slovenská diamantová skupina
    • OES – Oddelenie elektronických systémov
      • OES
      • Pedagogika @ OES
      • Výskum @ OES
    • Zamestnanci
    • Doktorandi
  • Odkazy a tlačivá
  • Aktuality
English

cropped-header-e1611091149768.png

Published j.F Y - size: 1200 × 280 in cropped-header-e1611091149768.png
Next →
Both comments and trackbacks are currently closed.

stu_logo

fei_logo

ais_logo

© ÚEF; Renovatur in MMXX, sano created by Peter Vančo