logo
  • Home
  • Uchádzači o štúdium
    • Prečo študovať elektroniku a fotoniku na ÚEF FEI STU
    • Naše laboratóriá (výber :-)
    • Prihláška na štúdium na STU
  • Štúdium
    • Bakalárske štúdium
    • Inžinierske štúdium
    • Doktorandské štúdium
      • Legislatíva
      • PhD skúška v cudzom jazyku
    • Štátne záverečné skúšky
    • Vedecká konferencia ŠVOČ
      • ŠVOČ 2021
      • ŠVOČ 2020
      • ŠVOČ 2016
      • SVOČ 2014
    • Moodle E-Learn central
    • Harmonogram akademického roka
    • Legislatíva
  • Výskum
    • Zamerania výskumu
    • Spolupráca s praxou
    • Výskumné projekty (výber)
      • Intelligent Reliability 4.0 (iRel4.0)
    • Publikačná činnosť
    • Konferencie
    • Výročné správy
    • Laboratóriá
    • Naše laboratóriá (výber)
  • O nás
    • Organizačná štruktúra ÚEF
      • Mapa organizačnej štruktúry ÚEF (neškálovateľná)
    • OOLE – Oddelenie organickej a lekárskej elektroniky
      • Laboratórium organickej elektroniky
    • ONTIO – Oddelenie návrhu a testovania integrovaných obvodov
    • OEP – Oddelenie elektronických prvkov
      • BatteryLab @ OEP
    • OOLT – Oddelenie optoelektroniky a laserovej techniky
      • Pedagogika @ OOLT
      • Výskum @ OOLT
    • OSNT – Oddelenie senzorov a nanotechnológií
      • Slovenská diamantová skupina
    • OES – Oddelenie elektronických systémov
      • OES
      • Pedagogika @ OES
      • Výskum @ OES
    • Zamestnanci
    • Doktorandi
  • Odkazy a tlačivá
  • Aktuality
English

Laboratóriá

Laboratórium elektrickej, optickej a analytickej charakterizácie mikroelektronických, senzorických a fotonických štruktúr

 Kontaktná osoba: prof. Ing. Jaroslav Kováč,PhD.

email: jaroslav.kovac@stuba.sk

Technické vybavenie/zariadenia

Atomic Force Microscope – AFM, Park systems XE-100

Spektrálny elipsometer (PhE-102) v rozsahu 250-1100nm

Ramanovská spektroskopiaUV-VIS ( S&I Spectroscopy & Imaging GmbH) s využitím budiacich laserov He-Cd s emisnou vlnovou dĺžkou 325 nm  a optickým výkonom 50 mW,

Argónový laser (514/488 nm) s možnosťou preladenia, 120 mW na 488 nm & 120 mWna 514 nm, chladený EMCCD s eXcelon detektorom a konfokálnym Ramanovským mikroskopom BX51 Olympus (prevádzkovaný v MLC)

Agilent 4155C

Modulárne litografické zariadenie MA6 predurčené na výskumné účely v oblastiach, ako nanotechnólogie, fotonika, solárne články, SMART senzorické systémy

Hrotový prípravok s mikroposuvmi(Süss Microtech)

Parametrický analyzátor s programovateľným riadením (ICV Lite) obsahuje 4 zabudované precízne zdroje +/- 100V, 0,1 A s napäťovým rozlíšením 2 mV a prúdovým rozlíšením 10 fA  a s možnosťou impulzného režimu 500ms-100ms. Doplnkom je vymeniteľný výkonový blok  +/-200 V,1 A a pre dynamické merania impulzný generátor PGU s rozsahom +/-40V, 1ms-10s a 4 kanálový osciloskop Agilent DSO5054A so šírkou pásma 500 MHz.

BIORAD DL8000 DLTFS

Technológie

Najväčšie čisté priestory na Slovensku. Trieda čistoty ISO 5 (americká trieda 100) s maximálnym počtom 3 520 častíc väčších ako 0,5 µm a maximálne 29 častíc väčších ako 5 µm na 1 m3 sa dosahuje v najčistejšej miestnosti (litografia) a laminárnych boxoch

Mokrá aj suchá depozícia organických materiálov, pasivácia a tvarovanie

Litografia

Rast oxidových (SiO2, SiOxNy) a/alebo nitridových vrstiev (SiN, Si3N4)

Plazmatický systém rastu vrstiev chemickou depozíciou z pár

Modul tzv. „nano-odtlačkovej“ litografie (Nano-imprint Lithography)

Zariadenie PlasmalabSystem 100

Zariadenie Plasma Lab 80 Plus

Zariadenie PVD 75, s možnosťou kombinácie termického odparovania, odparovania elektrónovým zväzkom, prípadne magnetrónovým odprašovaním.

Povrchová morfológia nanometrových rozmerov pomocou atómového silového mikroskopu

Optické metódy spektrálnej elipsometrie

Elektrické vlastností mikro a optoelektronických prvkov pomocou parametrického analyzátora obvodov

Metóda DLTFS

Elektrické vlastností mikro a optoelektronických prvkov pomocou parametrického analyzátora obvodov

Servis/služby

Analýza povrchovej morfológie nanometrových rozmerov pomocou atómového silového mikroskopu

Charakterizácia optických vlastností štruktúr metódami spektrálnej elipsometrie

Charakterizácia elektrických vlastností mikro a optoelektronických prvkov pomocou parametrického analyzátora obvodov

Charakterizácia hlbokých hladín v polovodičoch a heteroštruktúrach pomocou metódy DLTFS

Služby v oblasti vývoja a výroby organických, fotonických a iných polovodičových štruktúr

Vzdelávanie)
Komplexný vzdelávací proces zameraný na fyziku, technológie a diagnostiku pokrokových polovodičých štruktúr a obvodov, na optimalizáciu technologických procesov a charakterizáciu vlastností perspektívnych mikro/nano a optoelektronických a fotonických štruktúr a prvkov, najmä tranzistorov typu HEMT, solárnych článkov a senzorov. Komplexný vzdelávací proces zameraný na dynamicky sa rozvíjajúce oblasti elektroniky.

Laboratórium organickej elektroniky

 Kontaktná osoba: prof. Ing. Martin Weis, DrSc.

email: martin.weis@stuba.sk

Technické vybavenie/zariadenia

Vlastné zariadenie na pasiváciu organických elektronických štruktúr a tvorbu tenkých izolačných vrstiev, ktoré umožňuje dosahovať o rád tenšie homogénne izolačné vrstvy ako komerčne dostupné technológie. Vďaka tomu je možné realizovať celú technológiu prvkov organickej elektroniky v jednom laboratóriu

Technológie

Laboratórium je vybavené technológiou potrebnou na prípravu elektronických prvkov, ako sú organické svetlo-emitujúce diódy (OLED) alebo organické poľom riadené tranzistory (OFET),

ako aj na ich charakterizáciu.

Servis/služby

Návrh, príprava, testovanie a analýza organických elektronických prvkov, ako sú organické svetlo-emitujúce diódy (OLED) alebo organické poľom riadené tranzistory (OFET)..

Aplikácie v oblasti integrovanej organickej elektroniky, flexibilnej elektroniky, organickej senzoriky, alebo aj organickej optoelektroniky. Výskum organických solárnych článkov

Vzdelávanie)
Komplexný vzdelávací proces zameraný na návrh, prípravu, testovanie a analýzu organických elektronických prvkov, ako sú organické svetlo-emitujúce diódy (OLED) alebo organické poľom riadené tranzistory (OFET).

Laboratórium uhlíkových nanoštruktúr a grafénových vrstiev

Kontaktná osoba: Ing. Marián Vojs, PhD.

email: marian.vojs@stuba.sk

Technické vybavenie/zariadenia

SEM Cold Cathode Microscope JEOL JSM 7500

Raman Spectrometer (ISA-Jobin Yvon-Dilor-Horiba, 633 nm)

AUTOLAB PGSTAT128N with automatic Dosino system

RF RIE etching system Plasma PE 200

Linear antenna microwave CVD reactor, low temp large area (20x30cm) deposition (Scia systems)

Hot Filament CVD diamond reactor (home-made)

Microwave/Hot Filament CVD diamond reactor (home-made)

Arc Discharge Reactor for CNT Growth (home-made)

CVD Reactor for CNT Growth (home-made)

RTA - Rapid Thermal Annealing (home-made)

Evaporation equipment for thin films deposition (home-made)

Contact Angle Measurement System (home-made)

Helium leak detector HLT570 (Pfeiffer vacuum)

Technológie

Depozícia intrinzických a bórom dopovaných mikro- nano-diamantových vrstiev, uhlíkových nanorúrok, grafénových nanostien, DLC vrstiev

Čistenie odpadových vôd, odtokov, bazénov pokročilými elektrochemickými oxidačnými metódami

Výroba elektród a systémov pre elektrochemickú analýzu a degradáciu

Elektrochemická analýza roztokov (ťažké kovy, biomolekuly, liečivá, drogy)

Vákuové naparovanie a naprašovanie tenkých vrstiev kovov

Plazmatické leptanie v RF a DC plazme

Teplotné žíhanie do 800°C (RTA) vo vákuu alebo plynnej atmosfére

Servis/služby

Analýza materiálov metódami SEM a Ramanovej spektroskopie

Hľadanie a odstránenie vákuových netesností

Odborné poradenstvo a služby v oblasti vákuových technológií a nanotechnológií

Vzdelávanie
Komplexný vzdelávací proces zameraný na fyziku vákua a vákuové technológie a nanotechnológie

Laboratórium elektrofyzikálneho modelovania a simulácie

Kontaktná osoba: doc. Ing. Aleš Chvála, PhD.

email: ales.chvala@stuba.sk

Technické vybavenie/zariadenia

PC Intel Core i7 2600 3.4GHz, 24GB RAM

PC Intel Core i7 2600 3.4GHz, 24GB RAM

PC Intel Core i7 3770 3.4GHz, 32GB RAM

PC Intel Core i7 930 3.5GHz, 6GB RAM

Technológie

10 x licencia Synopsys TCAD Sentaurus

20 x licencia HSPICE

Servis/služby

Návrh, analýza a optimalizácia polovodičových štruktúr a systémov podporená simuláciou a modelovaním

Vzdelávanie
Možnosť vzdelávať a podieľať sa na riešení medzinárodných projektov pri spolupráci domácich a zahraničných partnerov pri riešení úloh návrhu, analýzy a optimalizácii pokrokových polovodičových štruktúr

Laboratórium návrhu a testovania integrovaných obvodov a systémov

Kontaktná osoba: prof. Ing. Viera Stopjaková, PhD.

email: viera.stopjakova@stuba.sk

Technické vybavenie/zariadenia

Návrhársky softvér (kompatibilný s vybavením komerčných firiem - CADENCE, MENTOR GRAPHICS, SYNOPSYS, CST Microwave) a meracia technika, ako aj prístup k najmodernejším polovodičovým technológiám s rozmerom hradla tranzistora pod 100 nm (CMOS, BiCMOS)

Technológie

Technológie s rozmerom hradla tranzistora pod 100 nm (CMOS, BiCMOS)

Servis/služby

Laboratórium umožňuje návrh či integráciu obvodov a systémov napr. pre  inteligentné mikrosenzory, predspracovanie snímaných signálov priamo na čipe, mobilné biomedicínske zariadenia (biomonitorovacie systémy, neuročipy a neuroprotézy), monitorovanie spotreby energie, zberače energie na čipe, atď. Vývoj metodík testovania zmiešaných integrovaných obvodov a systémov priamo na čipe, akými sú parametrické testovacie techniky, či využitie umelých neurónových sietí v diagnostike IO.

Vzdelávanie
Komplexný vzdelávací proces zameraný na návrh a testovanie integrovaných obvodov

Laboratórium lekárskej a aplikovanej elektroniky

 Kontaktná osoba: doc. Ing. Martin Donoval, PhD.

email: martin.donoval@stuba.sk

Technické vybavenie/zariadenia

Elektronické meracie a riadiace systémy pre návrh elektronických obvodov a biometrických zariadení. Medzi špičkové zariadenia patria UIS multipulzný tester, biometrické snímacie zariadenia pre bezdrôtové snímanie EKG, stabilometrická platňa, CnC frézovacie zariadenie, poloautomatická osádzačka elektronických obvodov - PCB, pec na zapekanie PCB, vybavenie pre realizáciu a analýzu elektronických systémov

Technológie

Súčasné moderné návrhové a konštrukčné metódy na výrobu elektronických obvodov a biometrických zariadení.

Servis/služby

Vývoj mikroprocesorových systémov, biometrických systémov na meranie presných biometrických veličín, ako sú EKG, EMG, respiračná frekvencia a ďalšie. Vývoj presných meracích systémov na monitorovanie elektrických veličín. Vývoj elektronických a senzorických systémov, vývoj precíznych PCB, riadiacich systémov. Dátový prenos prostredníctvom bezdrôtových sietí, priemyselných zberníc, internetu. Realizácia aplikácií pre smart-telefóny, ktoré ovládajú bezdrôtové jednotky – napríklad senzorické systémy a prenášajú dáta na server. Príprava serverového riešenia na prijímanie a spracovanie dát.

Vzdelávanie
Vzdelávanie v oblasti návrhu elektronických obvodov a systémov, programovania mikroprocesorov, využitia moderných súčiastok, prípravy bezdrôtového prenosu, využitia analógových a digitálnych súčiastok.

Laboratórium tenkovrstvových senzorických štruktúr

Technické vybavenie/zariadenia

-          univerzálna komora na testovanie elektrických vlastností senzorov a mikrosystémov vo vákuu a pri zvýšených teplotách ako aj za prítomnosti plynov

-          zariadenie na plazmatické leptanie a tvarovanie nanoštruktúrnych motívov s výkonným ICP zdrojom

Technológie

-          tenkovrstvové naprašovacie technológie, plazmatické leptacie procesy, fyzikálno-chemické modifikovanie povrchu

 Servis/služby

-          návrh, vývoj a realizácia mikrosenzorov teploty a plynu

 Vzdelávanie

-          v oblasti moderných technológií prípravy tenkých vrstiev, v oblasti návrhu, modelovania a vývoja senzorov a mikrosystémov, v oblasti prípravy a tvarovania mikroštruktúr

Kontakt

  • Vedenie ÚEF
  • Kde sa nachádzame

Užitočné odkazy

  • eLearn Central
  • Publikačná činnosť ÚEF
  • Horizon 2020
  • VEGA
  • e-VEGA
  • KEGA
  • APVV
  • e-APVV
  • Výberové konania FEI STU
  • Webmail
  • Jedáleň

stu_logo

fei_logo

ais_logo

© ÚEF; Renovatur in MMXX, sano created by Peter Vančo